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管理員 發(fā)布于：2026-03-27
2026年3月24日，由CTI華測檢測半導體檢測及分析中心主辦的“Nanoprobe納米探針技術研討會”在上海浦東凌陽大廈成功舉辦。本次會議聚焦納米探針檢測技術在半導體失效分析與器件表征領域的應用，圍繞晶體管級原位電性表征、芯片失效精準歸因、金屬互連微觀缺陷探秘及器件可靠性檢測等方向展開深入研討，吸引了來自半導體設計、制造、封測及車規(guī)電子等領域的行業(yè)同仁積極參與。
上海微納國際貿(mào)易有限公司作為專業(yè)的電鏡制樣設備及電鏡功能擴展附件供應商，受邀參加本次會議。其中，上海微納代理品牌Imina Technologies全球銷售總監(jiān)Rob Claassen帶來題為《Imina NanoProbing and EFA solution for Semiconductor Industry》的精彩報告。Rob Claassen系統(tǒng)介紹了Imina Technologies在納米探針及電性失效分析領域的最新技術解決方案。報告重點展示了Imina自研移動機器人技術，該方案將亞納米級分辨率與厘米級移動范圍相結合，核心機械手可與主流電鏡設備匹配，配套軟件優(yōu)化了全流程操作，為半導體失效分析提供了高效、可靠的檢測工具。
報告現(xiàn)場
會議期間，上海微納在會場設立了技術展位，展示了包括Imina納米探針系統(tǒng)、Fischione 1061 SEM 氬離子拋光儀制樣設備等在內(nèi)的先進產(chǎn)品。在實機演示環(huán)節(jié)，現(xiàn)場展示了Imina納米機械手搭載SEM機臺所組成的納米探針檢測系統(tǒng)，直觀呈現(xiàn)EBIC/EBAC失效分析的全流程操作，使參會嘉賓近距離體驗納米探針技術的實際應用價值。展位吸引了眾多參會代表駐足交流，公司技術人員就產(chǎn)品性能、技術特點及應用場景提供了專業(yè)解答與支持。
展位現(xiàn)場
本次Nanoprobe納米探針技術研討會的成功舉辦，為半導體檢測領域的技術交流與產(chǎn)學研合作搭建了高質(zhì)量平臺，對推動納米探針技術在失效分析領域的應用具有重要意義。上海微納通過深度參與本次會議，進一步加強了與半導體檢測領域用戶的聯(lián)系，展示了公司在電鏡制樣、原位分析及納米探針技術方面的綜合實力。未來，公司將繼續(xù)依托全球優(yōu)質(zhì)設備資源與本地化服務優(yōu)勢，為中國半導體產(chǎn)業(yè)的技術創(chuàng)新提供更優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品與技術支持。
上海微納國際貿(mào)易有限公司作為一家專注于電鏡制樣設備及擴展電鏡功能原位及成像附件設備的供應商，目前是美國Fischione公司、Protochips公司、LatticeGear公司、IBSS公司，瑞士Dectris公司（電鏡產(chǎn)品線）、condenZero公司、IMINA公司，英國SPTLabtech公司、Quorum公司、Deben公司，丹麥InsightChips公司、德國PNDetector公司、Point Electronic公司在中國區(qū)的總代理，并進一步獲得Fischione、Protochips、Quorum、Dectris（電鏡產(chǎn)品線）、Point Electronic、PNDetector和Deben在東南亞地區(qū)的獨家代理權（授權區(qū)域：新加坡、馬來西亞、印度尼西亞、菲律賓、越南、老撾、柬埔寨、泰國），同時為更好地服務東南亞客戶，公司成立了新加坡分公司——Singapore Winner Scientific Instruments PTE LTD。
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